更新時間：2024-06-22
儀器型號：
QuaNix4200P涂層測厚儀（分體式）更方便用戶在臺階、狹小、拐角及凹槽等復雜區(qū)域測量，QuaNix4200P涂層測厚儀（分體式）零位穩(wěn)定，無需校準，溫度補償，紅寶石探頭，*的直流采樣技術
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QuaNix4200P分體式涂層測厚儀
QuaNix4200P涂層測厚儀（分體式）更方便用戶在臺階、狹小、拐角及凹槽等復雜區(qū)域測量，QuaNix4200P涂層測厚儀（分體式）零位穩(wěn)定，無需校準，溫度補償，紅寶石探頭，*的直流采樣技術。
| QuaNix4200P | |
| 測量范圍 | QNIX4200P（分體型）：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um |
| QNIX4200P5（分體型）：Fe:0-5000um；NFe:0-5000um | |
| 顯示精度 | 0.1um |
| 精度 | 0-50um:≤±1um |
| 50-1000um:≤±1.5%讀數 | |
| 1000-3000um≤±3%讀數 | |
| zui小接觸面 | 10×10mm/QNix4500 |
| zui小曲率半徑 | 凸面：3mm；凹面：25mm |
| zui小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
| 溫度補償范圍 | 0-60℃ |
| 顯示 | LCD液晶（帶背光） |
| 探頭 | 紅寶石固定式 |
| 電源 | 2×1.5V干電池 |
| 尺寸 | 100×60×27mm |
| 重量 | 110g |
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