汕超超聲波探傷儀是一種需求的精密檢測(cè)儀器，在運(yùn)用時(shí)有必要做好各個(gè)方面的作業(yè)。之所以采用本設(shè)備，是因?yàn)槌暡ㄔ诮橘|(zhì)中傳播時(shí)，在不同質(zhì)界面上具有反射的特性，如遇到缺陷，缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長時(shí)，則超聲波在缺陷上反射回來，探傷儀可將反射波顯示出來；如缺陷的尺寸甚至小于波長時(shí)，聲波將繞過缺陷而不能反射；波聲的指向性好，頻率越高，指向性越好，以很窄的波束向介質(zhì)中輻射，易于確定缺陷的位置.超聲波的傳播能量大，如頻率為1MHZ（1兆赫茲）的超聲波所傳播的能量，相當(dāng)于振幅相同而頻率為1000HZ（赫茲）的聲波的100萬倍。
汕超超聲波探傷儀使用前的調(diào)試是非常重要的，具體需要做以下這些工作：
1、零點(diǎn)校正：
由于超聲波經(jīng)過保護(hù)膜、耦合劑(直探頭)或有機(jī)玻璃楔塊(斜探頭)進(jìn)入待測(cè)工件，在缺點(diǎn)定位時(shí)，需將這局部聲程移去，才能得到超聲波在工件中實(shí)踐聲程。
零點(diǎn)通常是經(jīng)過已知聲程的試塊進(jìn)行調(diào)理，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面(斜探頭)或深100mm的大平底(直探頭)。
2、K值校正：
由于斜探頭探傷時(shí)不只要知道缺點(diǎn)的聲程，更要得出缺點(diǎn)的筆直和水平方位，因而斜探頭還要精確測(cè)定其K值(折射角)才能精確地對(duì)缺點(diǎn)進(jìn)行定位。K值通常是經(jīng)過對(duì)具有已知深度孔的試塊來調(diào)理，如用CSK-IA試塊50或1.5的孔。
3、定量校正：
探傷儀定量調(diào)理通常選用AVG(直探頭)或DAC(斜探頭)。
